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Sistema di prova e Metodologia di test
Il sistema di test era cosi composto
I test effettuati sono stati scelti per verificare la Bandwith delle memorie sia dal punto di visto operativo che in overclock spingendole con frequenze superiori a quelle di targa. Dal punto di visto operativo le F3-2400C10D-8GTX sono state testate a frequenze anche inferiori a quelle di targa, per verificare la capacità delle stesse ad operare a timing ridotti. In ambito overclock abbiamo cercato di salire di frequenza sia con il moltiplicatore che nel caso di problemi con il Bclk della CPU, quindi gradualmente.
In particolare sono state utilizzate le seguenti impostazioni per le memorie:
- (1600 8-9-8-24 1T 1,50v)
- (1866 9-9-9-26 1T 1,55v)
- (2133 10-10-10-28 1T 1,60v)
- (2400 10-12-12-31 1T 1,65v)
I test sintetici e multimediali sono stati effettuati con frequenza della CPU a default, alzando quando necessario le tensioni operative di VCCSA ed impostando i paramtri relativi alle RAM sopra elencati.